測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
新聞資訊
News時間:05-02 2023 來自:祥宇精密
二次元測量儀又叫影像測量儀或者視頻檢測儀,適用于以二維尺寸測量為目的一切應用領域,在機械,手機電子,儀表,塑膠等行業廣泛使用;主要功能是用于測量點,線,圓,弧,角度、直徑、半徑、點到線或線到線的距離、兩圓的偏心、兩點間距等;
隨著科技發展,對各種工件和零件的測量精度越來越高,對二次元測量儀的要求也是越來越苛刻,二次元測量儀是對傳統的測量技術的飛躍性發展,是將傳統的光學投影和計算機完美結合的產物。二次元影像測量儀是當今工業檢測與計量技術領域中的一個新名詞,它代表的是數字化科技溶入工業檢測與計量,進行空間幾何運算的先進測量技術。
它能快速讀取光柵尺的位移數值,通過建立在空間幾何基礎上的軟件模塊運算,瞬間得出所要的結果;并在屏幕上產生圖形,供操作員進行圖影對照,從而能夠直觀地分辨測量結果可能存在的偏差。
祥興儀器二次元測量儀主要特點
采用“HIWIN”P級直線導軌和精密V型滾珠導軌,保證機器精度及使用壽命。
立柱和底座采用堅實的花崗巖結構、穩定可靠。
配備多功能2.5D測量軟件,自動尋邊,影像測高。
配備可移動可拆卸的儀器專用桌。
高清卡位變倍鏡頭和高分辯率CCD,實現產品高清晰度測量。
測量結果可輸出Word 、Excel、CAD等格式。
可導入DXF文件進行快速檢測。
XVM-F2.5次元測量儀系列技術參數
型號 XVM-2010FXVM-3020F XVM-4030F
測量范圍(mm)200x100x200 300x200x200 400x300x200
外型尺寸(mm)750*1300*1500mm750*1300*1500mm900*1400*1500mm
重量(kg)160 170250
承重(kg) 20 2525
備注:客戶可根據自身產品需求選配英國Renishaw MCP探針接觸式測高功能
測量精度(μm): 3+L/200
重復精度(mm):0.003
測量方式:光學非接觸式影像測量
光柵尺: 1.0μm分辯率開放式玻璃光柵尺
圖像傳感器CCD: HC536 1/3英寸600線工業彩色相機
導軌: Z軸:“HIWIN”P級直線導軌X、 Y軸:精密V型導軌
光學系統: 6.5:1連續變倍卡位鏡筒
放大倍率: 光學放大倍率:0.7-4.5X;影像放大倍率:24-158X
400-801-9255